ピコクロック・チッカーの改良（ソフトウエアプログラム）(Ragubalan Shanmugamら (Intel, マレーシア)、TRIZシンポジウム 2009) (紹介、中川徹)

TRIZ論文: TRIZ シンポジウム 2009 発表
ピコクロック・チェッカーの改良（ソフトウエアプログラム）
Ragubalan Shanmugam; Cheng, Chiew Shan (Intel, マレーシア)
日本TRIZ協会主催第5回日本TRIZシンポジウム、2009年9月10-12日、国立女性教育会館、埼玉県比企郡嵐山町
スライド和訳: 正木敏明 (日東電工)、中川徹 (大阪学院大学) 紹介: 中川徹 (大阪学院大学)、英文: 2009年11月28日
掲載：2010. 9.23

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編集ノート (中川徹、2010年 9月20日)

本稿は、昨年の第5回TRIZシンポジウム2009 で、インテル・マレーシアから発表された4件の実地問題解決事例のうちの一つです。オーラルセッションで発表されました。

この発表についての私の「Personal Report of Japan TRIZ Symposum 2009」での紹介は、あまり普通でない書き出しで以下のように書いています。

[*** この事例報告は、電子回路基板を検査する装置における難しい(混乱させるような) 問題に対して、非常に面白くかつ有用な解決策を与えているものと、私は信じている。しかし、残念ながら、私はその問題の状況と達成した解決策について、よく理解できていない。著者の拡張アブストラクト(1ページ) を5月に読み、最終原稿のスライドを7月末に読んでから、私は著者に「非専門家のためにもう少し分かりやすく書き直して貰えないだろうか?」と要請した。しかし、原稿は改訂されなかった。そこで私は、以下の紹介において、(私の間違った説明をして混乱させないように) 著者の拡張アブストラクトでの説明を直接 (' ' に括って) 使うようにした。できれば後日、著者の助力を得て、もっと分かりやす紹介を書ければよいと思う。]

本稿ではその解決策を「Outside in」と表現しており、「ブラックボックステスト」と呼ばれるもので、非常に汎用性がある考え方と思いますが、私には本稿の解決策によるテストデータがとのようにして獲得されているのかが、理解できていません。

本ページは、和文・英文でつぎのように構成しています。

[1] 論文概要 (拡張概要) 英文

[2] 発表スライド英文 PDF

発表スライド和文 (和訳: 正木敏明(日東電工)、中川徹(大阪学院大学)) PDF

[3] 中川による紹介 (「Personal Report of Japan TRIZ Symposium 2009」、2009年11月28日、からの抜粋) 英文

[1] 論文概要 (拡張概要) ==> 英文ページ

[2] 発表スライド全文:

英文発表スライド (12 スライド、PDF 241 KB) (公開、変更禁止、コピー許可、印刷許可)

和文発表スライド (訳: 正木敏明(日東電工)、中川徹(大阪学院大学)) (12スライド、PDF 324 KB) (公開、変更禁止、コピー許可、印刷許可)

[3] 発表の紹介 (中川):

英文ページ参照

「Personal Report of The Fifth TRIZ Symposium in Japan, 2009, Part D. Case Studies in Industries」、
中川徹 (2009年11月28日) (英文ページ) から抜粋。

中川Personal Report TRIZシンポ2009

第5回TRIZシンポジウム2009

英文ページ

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最終更新日 : 2010. 9.23 連絡先：　中川徹 nakagawa@ogu.ac.jp